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Aehr Test Systems总部位于加利福尼亚州弗里蒙特，是提供用于老化和测试逻辑，光学和内存集成电路的测试系统的全球提供商，在全球范围内已安装了2500多个系统。汽车和移动集成电路市场对质量和可靠性的日益增长的需求正在推动额外的测试要求，增加的容量需求以及封装，晶圆级和单片管芯/模块级测试中Aehr测试产品的新机遇。

Aehr Test已开发并推出了几种创新产品，包括ABTS和FOX-P系列测试和老化系统以及FOX WaferPak对准器，FOX WaferPak接触器，FOX DiePak载体和FOX DiePak装载器。 ABTS系统用于低功耗和高功耗逻辑设备以及所有常见类型的存储设备的封装零件的生产和鉴定测试。 FOX-XP系统是完整的晶圆接触和单片管芯/模块测试和老化系统，用于复杂设备的老化和功能测试，例如前沿存储器，数字信号处理器，微处理器，微控制器，系统，片上集成光学设备。 WaferPak接触器包含一个独特的完整晶片探针卡，能够测试最大300mm的晶片，使IC制造商能够在Aehr Test FOX系统上进行完整晶片的测试和预烧。 DiePak载体是针对FOX-XP系统定制设计的可重复使用的测试板，使IC制造商能够对单个芯片和模块进行经济有效的测试/预烧。